GB-T2423[1].26-1992
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ID： |
DB3E845D02C64EBF98355E00E4F66F57 |
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文件大小(MB)： |
0.64 |
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页数： |
5 |
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文件格式： |
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日期： |
2024-6-23 |
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中华人民共和国国家标准,电エ电子产品基本环境试验规程,试验Z/BM :高温/低气压综合试验,Basic environmental testing procedures for,electric and electronic products,Test Z/BM： combined dry heat/low air pressure tests,gb/t 2423. 26 — 92,代替 GB 2423. 26—81,本标准参照采用国际标准IEC 68-2-41a976）《基本环境试验规程 第二部分 试验 试验Z/BM,高温/低气压试验》及其1983年的修改件,主题内容与适用范围,1.1 主题内容,本标准规定了散热和非散热试验样品高温（温度渐变和突变）和低气压综合试验的试验目的、试验,设备、严酷度等级和试验程序,1.2 适用范围,1.2.1 本标准规定的综合试验通常只有在试验样品进行单ー环境试验不能得出综合环境影响时使用,1.2.2 本标准规定的试验方法只适用于在试验期间能够达到温度稳定的试验样品,1. 2. 3本标准规定的试验方法一次只能试验ー个散热试验样品，散热试验样品一般应按GB 2423. 2,的规定在无强迫空气循环的试验箱中进行,1.2.4 本标准仅适用于气压大于1 kPa的压カ试验,1.2.5 有关高度、压カ和温度的关系见GB 1920,1.2.6 GB 2423. 2中有关非散热试验样品试验和散热试验样品试验应用对比的指南也适用于本标准,注：非散热试验样品的定义按GB 2422中的规定,不应在低气压下测量其最热点的温度,2引用标准,GB 1920《标准大气（30公里以下）》,GB 2421电エ电子产品基本环境试验规程总则,GB 2422电エ电子产品基本环境试验规程名词术语,GB 2423. 2电エ电子产品基本环境试验规程 试验B:高温试验方法,GB 2423. 21电エ电子产品基本环境试验规程 试验M:低气压试验方法,GB 2423. 22电エ电子产品基本环境试验规程 试验N；温度变化试验方法,GB 2424.!电エ电子产品基本环境试验规程 高温低温试验导则,GB 2424.15电エ电子产品基本环境试验规程 温度ノ低气压综合试验导则,3试验目的和一般说明,3.1 试验目的,____ 本试验的目的是确定元件、设备和其他产品对其使用和（或）贮存中遇到的高温和低气压综合环境,国家技术监督局1 992 07-01批准 1 993-03-01实施,中国可靠性网kaO：Xing.comC疝gcoim,GB/T 2423. 26-92,的适应性,3.2 一般说明,3.2.1 本试验是GB 2423. 2试验Bb或Bd和GB 2423. 21试验M的综合,3.2.2 试验中,试验样品首先应经受有关标准中规定的严酷度等级的高温试验。如果试验过程中试验,样品要工作,则要对其进行检测,以保证试验样品能够正常工作。而后在温度保持在规定值的情况下,将,试验箱压カ降到有关标准规定的试验压カ。将此温度、压力条件保持规定的时间。图1和图2表明了这,ー程序的剖面,条款或分条款,初始检测,8.2.1,8.2.2,8.2.3,8.2.,8,2.5, 8,2.6, 8.2.7,条件试验8.2.8,10,恢复最终检测,1 .温度,规定的试验温度试验箱温度 .,、、,试验室温度,丒试验样品温度1,2 .气压,试验室气压,试验箱压カ,规定的试验气压 _,----------県需时间--------------- —>lh -,3 .试验样品通电,4 .功能检测和,（或）外观检査,股シ海箕」二竺:,试验样品可以断电,勿d 物以 照 図0〃//〃/厶,?丒只对运行试图,?中间检测,图1非散热试验样品的试验剖面图,中国可靠性网mtp:〃www.可靠性.com,GB/T 2423. 26 — 92,图2散热试验样品的试验剖面图,4试验设备,4.1试验箱,4. 1. 1试验箱应能产生和保持GB 2423. 2试验Bb或试验Bd和GB 2423. 21试验M中规定的试验条,件。但在温度和压カ变化期间,对箱壁的温度要求不适用,4.1. 2恢复压カ时,应避免试验箱的辅助设备、装置和引入的空气对试验箱内的空气产生污染,4.2安装,散热试验样品进行试验时,其安装应符合GB 2423. 2试验Bd中规定的要求,5严酷度等级,5.1 一般要求,5.1.1严酷度用温度、气压和暴露持续时间表示,有关标准中应规定试验选用的严酷度等级,5.1. 2温度、低气压值及其容差和持续时间一般应符合GB 2423. 2试验Bb或试验Bd和GB 2423. 21,试验M中的规定,对于这ー综合试验,不管试验箱大小如何,温度（丁）的容差允许更大些,即:T W100C 时为士 3c,100C< T <200'C 时为士5 C,5.1. 3暴露持续时间应从试验样品在低气压条件下达到温度稳定时算起（见图1和图2）,5.2温度、气压和持续时间的优先等级,应优先从下表中选取ー组温度、气压和持续时间值,条款或分条款,7.,初始检测,8.2. 1,8.2.2,8.2.3,8.2.4,8.2.5, 8.2.6, 8.2.7,条件试验,8.2.8,10,恢复,11,最终检测,1.温度,规定的试验温度,-X*■ 1 试验箱点度. ヽ// 、、,试验室温度レ\ ヽ,ヽ,ヽ1,ゝ■,2.气压,试验至气压,规定的试验气压,-试验箱压カ/,--------- 暴露时间 ----------- ->lh -,3.试验样品通电如,4 .功能检测和ー试验样品可以断电,.（或）外观检查如……
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